Agência FAPESP em 31/03/2015
O Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano), do Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM), em Campinas, adquiriu um novo equipamento para a aquisição de imagens tridimensionais de diferentes tipos de amostras. O microtomógrafo de raios X SkyScan 1272 revela detalhes da forma e da composição química das estruturas internas dos materiais, de forma não destrutiva e com resolução submicrométrica.
Durante a fase de implantação do equipamento, foram examinadas amostras poliméricas, geológicas, biológicas, de componentes e dispositivos eletrônicos, materiais compósitos e diferentes produtos industriais. A energia da fonte de raios X pode ser ajustada entre 20 e 100 kV.
O microtomógrafo permite resolver detalhes de 350 nanômetros das amostras, cujo tamanho pode alcançar 75 milímetros de diâmetro e 70 milímetros de comprimento.
“A microtomografia permite a visualização tridimensional de diferentes regiões da amostra em diferentes escalas, fornecendo informações complementares às obtidas pelas diferentes microscopias”, explica Rubia Figueredo Gouveia, pesquisadora do LNNano e responsável pelo equipamento.
Além da identificação morfológica, a técnica permite a quantificação de diferentes domínios em um mesmo material, fornecendo informações sobre a sua porosidade, fração volumétrica de cada fase e diâmetro das diversas estruturas presentes, utilizando softwares de análise extremamente poderosos.
Os interessados no uso do equipamento devem submeter uma proposta de pesquisa por meio do portal de usuários do CNPEM, em: https://portal2.cnpem.br/cadastro/login.jsf.
Repercussão: Planeta Universitário; Jornal Brasil
