NIT Mantiqueira em 05/08/2014
Um espectrômetro de fotoelétrons, um microtomógrafo e um microscópio eletrônico com feixe de íons focalizado são os principais equipamentos recebidos recentemente. No primeiro dia de julho de 2014, o espectrômetro de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) foi aberto para usuários em fluxo contínuo.
O modelo K-Alpha, adquirido pelo Laboratório, possui uma vantagem particular: uma fonte de clusters de íons de argônio, a qual possibilita a realização de etching e depth profiling em materiais orgânicos e biológicos, bem como em plásticos, borrachas, revestimentos e adesivos.
O Laboratório de Microscopia Eletrônica (LME/LNNano) conta com novo componente que será aberto aos usuários em outubro de 2014: um microscópio eletrônico de varredura (SEM) com a função Focused Ion Beam (FIB). A composição dual beam desse microscópio oferece uma ferramenta poderosa e flexível para a caracterização de nanomateriais e para nanofabricação. Com ele é possível combinar a análise morfológica, estrutural e espectroscopia EDX do microscópio de varredura com o sputtering e a deposição de recursos do FIB. O dual beam poderá ser utilizado para nanolitografia, reconstrução tridimensional de materiais e preparo de amostras para a microscopia eletrônica de transmissão (TEM), também disponível no LME/LNNano. Este é o primeiro instrumento no estado de São Paulo com essas características. As funcionalidades do microscópio também serão utilizadas no LNNano na micro e nano fabricação de dispositivos e sistemas funcionais.
Outro equipamento que está sendo preparado para ser aberto aos usuários é o microtomógrafo de raios X SkyScan 1272. Instalado em abril, o LNNano começará a receber propostas de pesquisa para o instrumento a partir de janeiro de 2015. A técnica de microtomografia permite a reconstrução tridimensional de diferentes amostras, com o intuito de revelar detalhes sobre forma e composição das estruturas internas do material, em escala micrométrica ou submicrométrica. O equipamento adquirido pelo LNNano possui uma fonte de raios X de 20 a 100 kV e um detector de 16 Mp (4904×3280 pixels). Utilizando a resolução máxima da câmera, é possível resolver estruturas de até 350 nm (nanômetros). As dimensões da amostra podem chegar a 75 mm de diâmetro e 70 mm de comprimento. É ideal para a análise de amostras biológicas, geológicas, componentes e dispositivos eletrônicos, materiais compósitos, produtos industriais, entre outros.
O simulador termomecânico acoplado à estação experimental XTMS de difração de raios X (Gleeble Síncrotron 3S50), conta com novos sistemas de resfriamento severo de amostras. Desenvolvidos pelos alunos de pós-graduação e staff do LNNano, os sistemas utilizam nitrogênio líquido como fluido refrigerante, o qual permite resfriar amostras até temperaturas tão baixas como -110°C e atingir taxas de resfriamento de até 250°C/s. Os dispositivos permitem, também, o resfriamento de amostras sem o uso de água, o que melhora o seu desempenho e vida útil.
Novos acessórios para o difratômetro de raios X de alta resolução também foram disponibilizados para usuários externos. Foram instalados tubos de raios X para radiação de cobre, sistema de rotação de amostra para medidas com amostras de pó e um monocromador Bartels de germânio 220 de alta resolução (12 arcsec de divergência). Tais acessórios vem favorecendo a execução de maior gama de medidas.
A submissão de propostas de pesquisa para qualquer equipamento do LNNano deve ser realizada por meio do Portal de Usuários do CNPEM. Tanto a XTMS quanto os novos acessórios do difratômetro e o XPS já estão disponíveis no portal.
Fonte: LNNano
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