BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//CNPEM - ECPv6.15.20//NONSGML v1.0//EN
CALSCALE:GREGORIAN
METHOD:PUBLISH
X-ORIGINAL-URL:https://cnpem.br
X-WR-CALDESC:Eventos para CNPEM
REFRESH-INTERVAL;VALUE=DURATION:PT1H
X-Robots-Tag:noindex
X-PUBLISHED-TTL:PT1H
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:America/Sao_Paulo
BEGIN:STANDARD
TZOFFSETFROM:-0300
TZOFFSETTO:-0300
TZNAME:-03
DTSTART:20230101T000000
END:STANDARD
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
DTSTART;TZID=America/Sao_Paulo:20240826T080000
DTEND;TZID=America/Sao_Paulo:20240830T170000
DTSTAMP:20260503T124256
CREATED:20240430T123633Z
LAST-MODIFIED:20240430T123633Z
UID:55789-1724659200-1725037200@cnpem.br
SUMMARY:II SEM-FIB Workshop
DESCRIPTION:O Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano) realizará entre os dias 26 e 30 de agosto de 2024 a segunda edição do SEM-FIB Workshop.  \nDestinado a pesquisadores\, estudantes de pós-graduação\, técnicos e profissionais do ensino e inovação\, o evento tem por objetivo promover uma introdução teórico-prática à Microscopia Eletrônica de Varredura/Scanning Electron Microscope (MEV/SEM) e à Microscopia Eletrônica de Duplo Feixe/ Focused Ion Beam (FIB).  \nCom aulas expositivas em auditório e demonstrações práticas nos equipamentos\, o workshop abordará aspectos básicos dos equipamentos e técnicas associadas\, incluindo espectroscopia de raios X dispersiva em energia (EDS)\, difração de elétrons retro espalhados (EBSD e TKD)\, e preparação de amostras por FIB\, proporcionando aos participantes uma base fundamental para compreender as técnicas e suas diferentes aplicações.  \nPeríodo de inscrição: as inscrições são gratuitas e vão de 02 de maio a 02 de junho de 2024.  \nPara se inscrever e obter mais informações\, acesse o site: https://pages.cnpem.br/semfib-workshop/ \n— \nII SEM-FIB Workshop  \nThe Brazilian Nanotechnology National Laboratory (LNNano) will hold the second edition of the SEM-FIB Workshop from August 26th to 30th\, 2024.  \nDesigned for researchers\, graduate students\, technicians\, and professionals in education and innovation\, the event aims to provide a theoretical and practical introduction to Scanning Electron Microscopy (SEM) and Focused Ion Beam (FIB) techniques.  \nWith classroom lectures and practical demonstrations\, the workshop will cover basic equipment and associated techniques\, including Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS)\, Electron Backscatter Diffraction (EBSD and TKD)\, and sample preparation by FIB\, providing participants with a fundamental understanding of the techniques and their various applications.  \nRegistration period: Registration is free and runs from May 2 to June 2\, 2024.  \nTo register and obtain more information\, visit the website: https://pages.cnpem.br/semfib-workshop/ 
URL:https://cnpem.br/event/ii-sem-fib-workshop/
LOCATION:Campus CNPEM\, R. Giuseppe Máximo Scolfaro\, 10000\, Campinas\, 13083-970
CATEGORIES:CNPEM,LNNano
ATTACH;FMTTYPE=image/png:https://cnpem.br/wp-content/uploads/2024/04/2-sem-fib.png
ORGANIZER;CN="Laborat%C3%B3rio Nacional de Nanotecnologia (LNNano)":MAILTO:lnnanocomunica@cnpem.br
END:VEVENT
END:VCALENDAR