{"id":68414,"date":"2014-08-07T11:32:52","date_gmt":"2014-08-07T14:32:52","guid":{"rendered":"https:\/\/cnpem.br\/lnnano-oferece-novos-recursos-instrumentais-aos-usuarios-academicos-pesquisadores-e-engenheiros-inovadores-2\/"},"modified":"2014-08-07T11:32:52","modified_gmt":"2014-08-07T14:32:52","slug":"lnnano-oferece-novos-recursos-instrumentais-aos-usuarios-academicos-pesquisadores-e-engenheiros-inovadores-2","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/cnpem.br\/en\/lnnano-oferece-novos-recursos-instrumentais-aos-usuarios-academicos-pesquisadores-e-engenheiros-inovadores-2\/","title":{"rendered":"LNNano oferece novos recursos instrumentais aos usu\u00e1rios acad\u00eamicos, pesquisadores e engenheiros inovadores"},"content":{"rendered":"<p style=\"text-align: justify;\"><em>NIT Mantiqueira em 05\/08\/2014<\/em><\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Um espectr\u00f4metro de fotoel\u00e9trons, um microtom\u00f3grafo e um microsc\u00f3pio eletr\u00f4nico com feixe de \u00edons focalizado s\u00e3o os principais equipamentos recebidos recentemente. No primeiro dia de julho de 2014, o espectr\u00f4metro de fotoel\u00e9trons excitados por raios X (XPS) foi aberto para usu\u00e1rios em fluxo cont\u00ednuo.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">O modelo K-<em>Alpha<\/em>, adquirido pelo Laborat\u00f3rio, possui uma vantagem particular: uma fonte de clusters de \u00edons de arg\u00f4nio, a qual possibilita a realiza\u00e7\u00e3o de <em>etching e depth profiling<\/em> em materiais org\u00e2nicos e biol\u00f3gicos, bem como em pl\u00e1sticos, borrachas, revestimentos e adesivos.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">O Laborat\u00f3rio de Microscopia Eletr\u00f4nica (LME\/LNNano) conta com novo componente que ser\u00e1 aberto aos usu\u00e1rios em outubro de 2014: um microsc\u00f3pio eletr\u00f4nico de varredura (SEM) com a fun\u00e7\u00e3o <em>Focused Ion Beam (FIB)<\/em>. A composi\u00e7\u00e3o <em>dual beam<\/em> desse microsc\u00f3pio oferece uma ferramenta poderosa e flex\u00edvel para a caracteriza\u00e7\u00e3o de nanomateriais e para nanofabrica\u00e7\u00e3o. Com ele \u00e9 poss\u00edvel combinar a an\u00e1lise morfol\u00f3gica, estrutural e espectroscopia EDX do microsc\u00f3pio de varredura com o sputtering e a deposi\u00e7\u00e3o de recursos do FIB. O dual beam poder\u00e1 ser utilizado para nanolitografia, reconstru\u00e7\u00e3o tridimensional de materiais e preparo de amostras para a microscopia eletr\u00f4nica de transmiss\u00e3o (TEM), tamb\u00e9m dispon\u00edvel no LME\/LNNano. Este \u00e9 o primeiro instrumento no estado de S\u00e3o Paulo com essas caracter\u00edsticas. As funcionalidades do microsc\u00f3pio tamb\u00e9m ser\u00e3o utilizadas no LNNano na micro e nano fabrica\u00e7\u00e3o de dispositivos e sistemas funcionais.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Outro equipamento que est\u00e1 sendo preparado para ser aberto aos usu\u00e1rios \u00e9 o microtom\u00f3grafo de raios X <em>SkyScan<\/em> 1272. Instalado em abril, o LNNano come\u00e7ar\u00e1 a receber propostas de pesquisa para o instrumento a partir de janeiro de 2015. A t\u00e9cnica de microtomografia permite a reconstru\u00e7\u00e3o tridimensional de diferentes amostras, com o intuito de revelar detalhes sobre forma e composi\u00e7\u00e3o das estruturas internas do material, em escala microm\u00e9trica ou submicrom\u00e9trica. O equipamento adquirido pelo LNNano possui uma fonte de raios X de 20 a 100 kV e um detector de 16 Mp (4904\u00d73280 pixels). Utilizando a resolu\u00e7\u00e3o m\u00e1xima da c\u00e2mera, \u00e9 poss\u00edvel resolver estruturas de at\u00e9 350 nm (nan\u00f4metros). As dimens\u00f5es da amostra podem chegar a 75 mm de di\u00e2metro e 70 mm de comprimento. \u00c9 ideal para a an\u00e1lise de amostras biol\u00f3gicas, geol\u00f3gicas, componentes e dispositivos eletr\u00f4nicos, materiais comp\u00f3sitos, produtos industriais, entre outros.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">O simulador termomec\u00e2nico acoplado \u00e0 esta\u00e7\u00e3o experimental XTMS de difra\u00e7\u00e3o de raios X (<em>Gleeble S\u00edncrotron 3S50<\/em>), conta com novos sistemas de resfriamento severo de amostras. Desenvolvidos pelos alunos de p\u00f3s-gradua\u00e7\u00e3o e staff do LNNano, os sistemas utilizam nitrog\u00eanio l\u00edquido como fluido refrigerante, o qual permite resfriar amostras at\u00e9 temperaturas t\u00e3o baixas como -110\u00b0C e atingir taxas de resfriamento de at\u00e9 250\u00b0C\/s. Os dispositivos permitem, tamb\u00e9m, o resfriamento de amostras sem o uso de \u00e1gua, o que melhora o seu desempenho e vida \u00fatil.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Novos acess\u00f3rios para o difrat\u00f4metro de raios X de alta resolu\u00e7\u00e3o tamb\u00e9m foram disponibilizados para usu\u00e1rios externos. Foram instalados tubos de raios X para radia\u00e7\u00e3o de cobre, sistema de rota\u00e7\u00e3o de amostra para medidas com amostras de p\u00f3 e um monocromador <em>Bartels<\/em> de germ\u00e2nio 220 de alta resolu\u00e7\u00e3o (12 arcsec de diverg\u00eancia). Tais acess\u00f3rios vem favorecendo a execu\u00e7\u00e3o de maior gama de medidas.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">A submiss\u00e3o de propostas de pesquisa para qualquer equipamento do LNNano deve ser realizada por meio do <a href=\"https:\/\/portal2.cnpem.staging.wpengine.com\/cadastro\/login.jsf\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\"><strong>Portal de Usu\u00e1rios do CNPEM<\/strong><\/a>. Tanto a XTMS quanto os novos acess\u00f3rios do difrat\u00f4metro e o XPS j\u00e1 est\u00e3o dispon\u00edveis no portal.<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><em>Fonte: <\/em>LNNano<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\">Veja a mat\u00e9ria na \u00edntegra:<\/p>\n<p style=\"text-align: justify;\"><a href=\"https:\/\/lnnano.cnpem.staging.wpengine.com\/blog\/lnnano-oferece-novos-recursos-instrumentais-aos-usuarios-academicos-pesquisadores-e-engenheiros-inovadores\/\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\">https:\/\/lnnano.cnpem.staging.wpengine.com\/blog\/lnnano-oferece-novos-recursos-instrumentais-aos-usuarios-academicos-pesquisadores-e-engenheiros-inovadores\/ \u00a0<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>NIT Mantiqueira em 05\/08\/2014 Um espectr\u00f4metro de fotoel\u00e9trons, um microtom\u00f3grafo e um microsc\u00f3pio eletr\u00f4nico com feixe de \u00edons focalizado s\u00e3o os principais equipamentos recebidos recentemente. 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